Keithley DMM7510 digitaalinen yleismittari
Keithley DMM7510 muuttaa käsityksesi digitaalisesta yleismittarista !
Kosketusnäytöllinen DMM + skooppinäyttö!
Keithley DMM7510 on ensimmäinen kosketusnäytöllinen yleismittari. Käytettävyydeltään se on aivan toista luokkaa kuin muut mittarit. Zoomaus in ja out toiminnot tehdään nykykännyköistä ja tableteista tutulla tavalla. Käytettävyyttä helpottaa myös matala valikkorakenne; vain 2 painallusta riittää. Ei enää syviä ja pitkiä valikkopolkuja. Suoraan etupaneelissa oleva HELP painike auttaa, kun tarvitset lisätietoja, joten voit unohtaa helposti katoavat käsikirjat.
Keithley DMM7510, yleismittari, joka näyttää enemmän kuin pelkät numerot !
Kuvaus
Keithley DMM7510 muuttaa käsityksesi digitaalisesta yleismittarista !
Kosketusnäytöllinen DMM + skooppinäyttö !
Keithley DMM7510 muuttaa käsityksesi digitaalisesta yleismittarista !
Kosketusnäytöllinen DMM + skooppinäyttö !
| Keithley DMM7510 on ensimmäinen kosketusnäytöllinen yleismittari skoopinäytöllä. Käytettävyydeltään se on aivan toista luokkaa kuin muut mittarit. Zoomaus in ja out toiminnot tehdään nykykännyköistä ja tableteista tutulla tavalla. Käytettävyyttä helpottaa myös matala valikkorakenne; vain 2 painallusta riittää. Ei enää syviä ja pitkiä valikkopolkuja. Suoraan etupaneelissa oleva HELP painike auttaa, kun tarvitset lisätietoja, joten voit unohtaa helposti katoavat käsikirjat. |
Tarkkaakin tarkemmin
|
| Näytteenotto Älä enää tuskaile mittarisi kanssa, joka näyttää vain min ja max. arvot. Sen toiminta perustuu vanhaan tekniikkaan ja siksi se ”näkee” vain osan signaalistasi. Nykytekniikan mukainen mittaus tehdään ottamalla näytteitä sisääntulosignaalista, joka voi olla joko virtaa tai jännitettä. Näytteistys tapahtuu nopealla (1Ms/s) ja erottelukykyisellä 18bit (262 144 tasoa) A/D muuntimella. Keithley DMM7510 mittarilla voidaan tutkia ja analysoida kertailmiöitä sekä nopeita että hitaita muutostapahtumia. Napatut ilmiöt voidaan tutkia skooppimaisella värinäytöllä, vaikkapa zoomattuna. Pitkään 27.5Mb muistiin mahtuu riittävästi dataa myös pidempikestoisten ilmiöiden mittauksiin. |
